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真空探針臺(tái)是一種用于數(shù)學(xué)領(lǐng)域的分析儀器。
主要功能:
在高真空環(huán)境下測(cè)試芯片
高低溫探測(cè)站有哪些用途:
高低溫真空探針臺(tái)是為晶片、器件和材料(薄膜、納米、石墨烯、電子材料、超導(dǎo)材料、鐵電材料等)提供真空和高低溫測(cè)試條件的無(wú)損電性測(cè)試站表征和測(cè)量平臺(tái)。
高低溫真空探針臺(tái)可以在不同的測(cè)試環(huán)境和不同的溫度條件下對(duì)微結(jié)構(gòu)半導(dǎo)體器件、微電子器件和材料進(jìn)行電特性表征測(cè)試。
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